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數(shù)顯立式光學(xué)計的優(yōu)點及實驗操作步驟是怎樣的
更新時間:2021-06-07 點擊次數(shù):1758次
   數(shù)顯立式光學(xué)計的原理是,自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)將標(biāo)尺光柵成像在指示光柵上,形成光閘式莫爾條紋;測桿的位移通過光學(xué)杠桿機構(gòu)使標(biāo)尺光柵像相對指示光柵移動,用光電器件進(jìn)行條紋計數(shù)。
 
  數(shù)顯立式光學(xué)計的優(yōu)點是:
  1.擺脫了信號累加計數(shù)方式,依據(jù)像元序號計數(shù),從信號接收到輸出均為純數(shù)字量,無須電子細(xì)分,因此對信號質(zhì)量要求寬松,抗干擾性強,計數(shù)穩(wěn)定性好。
 
  2.計數(shù)的依據(jù)是光帶落在CCD像元上的序號,在這之前途經(jīng)的像元不參加計數(shù),因此不存在漏計數(shù)問題,給使用帶來了方便。
 
  3.可以利用軟件對光學(xué)杠桿正切函數(shù)的非線性和CCD像元位置誤差進(jìn)行區(qū)段修正,因此示值精度更容易控制。
 
  4.采用液晶屏顯示,除顯示數(shù)字外,增加了模擬標(biāo)尺,利用光標(biāo)在標(biāo)尺上的左右移動指示當(dāng)前接收像元在整個測量范圍中所處的位置,能幫助操作者快速調(diào)整示值零位和方便找拐點操作。
 

 

  數(shù)顯立式光學(xué)計的實驗操作步驟:
  1、記錄數(shù)據(jù)
  分別記錄下量塊組的基本尺寸L和立式光學(xué)計的偏移量讀數(shù),進(jìn)行數(shù)據(jù)處理得到塞規(guī)的尺寸。將測量結(jié)果與國標(biāo)中塞規(guī)的尺寸公差進(jìn)行比較,判斷塞規(guī)是否合格。
 
  2、選擇測頭
  測頭有球形、平面形和刀口形三種,根據(jù)被測零件表面的幾何形狀來選擇,使測頭與被測表面盡量滿足點接觸。測量平面工件時,選擇球形測頭;測量球面工件時,選擇平面測頭;測量圓柱面工件時,應(yīng)選用刀口形測頭。
  塞規(guī)的測量面為圓柱形,因此本實驗應(yīng)選用刀口形測頭。
 
  3、調(diào)整儀器零位
  將量塊組放在工作臺上,先調(diào)整光學(xué)計立柱的升降螺母,使測頭的高度略低于量塊上表面,鎖緊升降螺母。壓下壓桿抬起測頭,將測頭緩緩放到量塊上表面,避免沖擊。然后按下reset歸零按鈕,顯示屏示數(shù)為0,完成儀器調(diào)零,測頭的此位置為零位。按下壓桿,抬起測頭,取下量塊組。
 
  4、測量塞規(guī)
  測量時,按下壓桿,將塞規(guī)放在工作臺上,放下測頭,壓在塞規(guī)上表面。等顯示屏示數(shù)穩(wěn)定后,讀取示數(shù),即為塞規(guī)相對基本尺寸零位的偏移量△L。
 
  5、進(jìn)行隨機誤差分布規(guī)律實驗
  再次對塞規(guī)測量,并且盡可能測量塞規(guī)同一部位,反復(fù)測量100次,注意每測完3~5次必須對儀器重新調(diào)零。然后要對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,作出直方圖并求出標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限測量誤差。
 
  6、根據(jù)被測塞規(guī)的基本尺寸組合量塊
  由于光學(xué)計測頭的活動范圍為10mm,因此組合量塊的尺寸與塞規(guī)的基本尺寸差值應(yīng)在10mm以內(nèi),方便測量。
  量塊上有防銹油,使用前先用棉紗將量塊擦干凈,尤其是兩個基本尺寸面。拿起量塊時,不要碰觸到基本尺寸面。
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